Micromètre pour revêtements Fe et NFe avec capteur externePCE-CT 80-F5N3-ICA
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Le micromètre PCE-CT 80-F5N3-ICA est conçu pour la mesure non destructive des revêtements sur bases métalliques ferriques et non ferriques. Il est équipé d'une interface USB et fonctionne sur piles, avec une mémoire intégrée pour stocker les données. Différents capteurs sont disponibles pour s'adapter à divers besoins de mesure.
Le capteur externe permet de mesurer dans des endroits difficiles d'accès, rendant cet appareil indispensable pour les mesures de contrôle dans la production, les ateliers et le contrôle de qualité. Il est également utilisé pour détecter et évaluer les dégâts causés par les accidents sur les véhicules.
Caractéristiques principales :
- Mesure des épaisseurs non magnétiques et non conductrices
- Design ergonomique pour une utilisation facile
- Certificat d'étalonnage ISO inclus
- Précision élevée et rapidité de mesure
Caractéristiques
- Nom/numéro de modèle
- PCE-CT 80-F5N3-ICA
- Type
- portable
- Poids (g)
- 270
- Calibrage
- avec calibrage automatique
- Niveau de protection
- IP30
- Secteur
- pour applications industrielles
- Certifications
- ISO
- Référence DirectIndustry
- 0021427705
- EAN
- 4250348730794
Description
Le micromètre PCE-CT 80-F5N3-ICA est conçu pour la mesure non destructive des revêtements sur bases métalliques ferriques et non ferriques. Il est équipé d'une interface USB et fonctionne sur piles, avec une mémoire intégrée pour stocker les données. Différents capteurs sont disponibles pour s'adapter à divers besoins de mesure.
Le capteur externe permet de mesurer dans des endroits difficiles d'accès, rendant cet appareil indispensable pour les mesures de contrôle dans la production, les ateliers et le contrôle de qualité. Il est également utilisé pour détecter et évaluer les dégâts causés par les accidents sur les véhicules.
Caractéristiques principales :
- Mesure des épaisseurs non magnétiques et non conductrices
- Design ergonomique pour une utilisation facile
- Certificat d'étalonnage ISO inclus
- Précision élevée et rapidité de mesure
Documentation technique
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