- Détection - Mesure
- Mesure de Position, Vitesse et Accélération
- Fourche optique
- Fourche optique U PNP/NPN E=2mm Prof=42mm Laser IO-Link LO/DO / M08 4P
Fourche optique U PNP/NPN E=2mm Prof=42mm Laser IO-Link LO/DO / M08 4P
514,80 €Prix TTC
Quantité
Paiement sécurisé
Virement bancaire
Informations de livraison
10 articles en stock
Frais de livraison à partir de :14,40 €TTC
Livraison entre le 24/07 et le 26/07
Vendu et expédié par
(1 avis)



Marque : SICK
La fourche optique SICK offre une détection précise avec un écartement de 2 mm et une profondeur de 42 mm. Compatible IO-Link, elle est idéale pour les environnements industriels exigeants grâce à sa robustesse et son indice de protection IP65.
Caractéristiques
- Nom/numéro du modèle
- WFL2-40B41CA00
- Température de fonctionnement (°C)
- -20
- Référence DirectIndustry
- 0005769231
Description
Caractéristiques principales :
- Format : Fourche en U
- Écartement de la fourche : 2 mm
- Profondeur de la fourche : 42(31) mm
- Plus petit objet détectable (MDO) : 0,05 mm
- Réglage : Apprentissage à 1 point, Apprentissage 2 points, Apprentissage dynamique
- Source d'émission : Laser, Lumière rouge visible
- Sortie de commutation : PUSH/PULL, PNP/NPN
- Mode de commutation : Commutation claire/sombre
- Fréquence de commutation : 11 kHz
- Temporisation : Switch-off delay
- Interface de communication : IO-Link, V1.1
- Raccordement : Connecteur mâle M8, 4 pôles
- Tension d'alimentation : 10-30Vdc
- Dimensions : 10 mm x 40,5 mm x 47 mm
- Matériau du boîtier : Aluminium
- Indice de protection : IP65
- Température de fonctionnement : –20 °C à +50 °C
- Série : WFL
Ce capteur de fourche optique offre une grande polyvalence grâce à ses différentes options de réglage et de communication. Sa construction robuste en aluminium et son indice de protection IP65 en font un choix idéal pour les environnements industriels exigeants. De plus, sa compatibilité avec l'interface IO-Link facilite son intégration dans des systèmes automatisés.
Documentation technique
Vous pourriez aussi être intéressé par
Recherches associées