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METRAHIT T-COM PLUS
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Marke: Gossen Metrawatt
Kabel-Multimeter zum Messen an symmetrischen Kupferkabelanlagen mit Signaturanalyse
Das Kabel-Multimeter METRAHIT T-COM PLUS ist ein tragbares, robustes und feldtaugliches Messgerät.
Es dient zur Durchführung von Messungen zur Ermittlung von Fehlerquellen in Kabelanlagen .
Es misst alle kabel- und anlagenrelevanten Parameter wie Spannung, Strom, Widerstand, Isolations- und Schleifenwiderstand, Kapazität und Kabellänge. Eine einadrige Unterbrechung bzw .
die Berührung mit einer unbeschalteten Ader (kapazitive Unsymmetrie) kann durch Polaritätswechsel mit der schnellen logarithmischen Bargraphanzeige erkannt werden.
Es misst alle kabel- und anlagenrelevanten Parameter wie Spannung, Strom, Widerstand, Isolations- und Schleifenwiderstand, Kapazität und Kabellänge. Eine einadrige Unterbrechung bzw .
die Berührung mit einer unbeschalteten Ader (kapazitive Unsymmetrie) kann durch Polaritätswechsel mit der schnellen logarithmischen Bargraphanzeige erkannt werden.
Eigenschaften
- DirectIndustry-Referenz
- 0012501067
Beschreibung
Kabel-Multimeter zum Messen an symmetrischen Kupferkabelanlagen mit Signaturanalyse
Das Kabel-Multimeter METRAHIT T-COM PLUS ist ein tragbares, robustes und feldtaugliches Messgerät.
Es dient zur Durchführung von Messungen zur Ermittlung von Fehlerquellen in Kabelanlagen .
Es misst alle kabel- und anlagenrelevanten Parameter wie Spannung, Strom, Widerstand, Isolations- und Schleifenwiderstand, Kapazität und Kabellänge. Eine einadrige Unterbrechung bzw .
die Berührung mit einer unbeschalteten Ader (kapazitive Unsymmetrie) kann durch Polaritätswechsel mit der schnellen logarithmischen Bargraphanzeige erkannt werden.
Es misst alle kabel- und anlagenrelevanten Parameter wie Spannung, Strom, Widerstand, Isolations- und Schleifenwiderstand, Kapazität und Kabellänge. Eine einadrige Unterbrechung bzw .
die Berührung mit einer unbeschalteten Ader (kapazitive Unsymmetrie) kann durch Polaritätswechsel mit der schnellen logarithmischen Bargraphanzeige erkannt werden.
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